첨단 소재 연구용 초정밀현미경, 오차 줄이고 성능은 8배 작성일 11-18 144 목록 <div id="layerTranslateNotice" style="display:none;"></div> <strong class="summary_view" data-translation="true">KAIST·버클리대 공동 연구진</strong> <div class="article_view" data-translation-body="true" data-tiara-layer="article_body" data-tiara-action-name="본문이미지확대_클릭"> <section dmcf-sid="uSonidzT0Z"> <figure class="figure_frm origin_fig" dmcf-pid="71rDEc6FzX" dmcf-ptype="figure"> <p class="link_figure"><img alt="한국과학기술원(KAIST)과 미국 버클리대 공동 연구진이 주사탐침 현미경의 성능을 8배 끌어올릴 방법을 찾아냈다. 사진은 이번 연구에 참여한 KAIST 연구진. 왼쪽부터 김연규 박사과정 연구원, 엄성문 박사과정 연구원, 홍승범 교수./한국과학기술원" class="thumb_g_article" data-org-src="https://t1.daumcdn.net/news/202411/18/chosunbiz/20241118092321143jthr.jpg" data-org-width="1400" dmcf-mid="pzP84VZwz1" dmcf-mtype="image" height="auto" src="https://img4.daumcdn.net/thumb/R658x0.q70/?fname=https://t1.daumcdn.net/news/202411/18/chosunbiz/20241118092321143jthr.jpg" width="658"></p> <figcaption class="txt_caption default_figure"> 한국과학기술원(KAIST)과 미국 버클리대 공동 연구진이 주사탐침 현미경의 성능을 8배 끌어올릴 방법을 찾아냈다. 사진은 이번 연구에 참여한 KAIST 연구진. 왼쪽부터 김연규 박사과정 연구원, 엄성문 박사과정 연구원, 홍승범 교수./한국과학기술원 </figcaption> </figure> <figure class="figure_frm origin_fig" dmcf-pid="zEP84VZwpH" dmcf-ptype="figure"> <p class="link_figure"><img class="thumb_g_article" data-org-src="https://t1.daumcdn.net/news/202411/18/chosunbiz/20241118092321486ynxx.png" data-org-width="1800" dmcf-mid="UKP84VZwU5" dmcf-mtype="image" height="auto" src="https://img2.daumcdn.net/thumb/R658x0.q70/?fname=https://t1.daumcdn.net/news/202411/18/chosunbiz/20241118092321486ynxx.png" width="658"></p> </figure> <p dmcf-pid="qseMxP3IpG" dmcf-ptype="general">국내 연구진이 첨단 소재 연구에 사용하는 현미경의 성능을 개선할 방법을 찾아냈다. 간단한 방법으로 현미경 성능을 8배 가까이 끌어올릴 수 있어 소재 연구를 가속화할 것으로 기대를 모은다.</p> <p dmcf-pid="BrMQP8tsuY" dmcf-ptype="general">홍승범 한국과학기술원(KAIST) 신소재공학과 교수가 이끄는 연구진은 미국 버클리대와 공동으로 주사탐침현미경(SPM)으로 특수 전자소자를 관찰할 때 발생하는 오차의 원인과 해결 방안을 찾았다고 18일 밝혔다.</p> <p dmcf-pid="bCideMUlUW" dmcf-ptype="general">주사탐침현미경은 머리카락 두께의 수만 분의 1 수준의 해상도로 물질을 관찰할 수 있는 초정밀 현미경 기술을 말한다. 나노미터(㎚, 10억분의 1m) 크기의 탐침이 물질의 표면을 근접해 지나가며 나타나는 물리적 변화량으로 표면의 특성을 분석할 수 있다. 주로 나노 특성 분석에 사용되며, 나노 기술 발전에 중요한 역할을 하고 있다. 하지만 주사탐침현미경은 관측 결과에 오차율이 크고, 오차가 발생하는 원인은 알려져 있지 않다.</p> <p dmcf-pid="KtmwDkP33y" dmcf-ptype="general">연구진은 현미경 탐침과 물체 표면 사이에 존재하는 ‘비접촉 유전 간극’이 측정 오차를 일으키는 원인이라는 것을 확인했다. 이 간극은 오염물질로 채워져 있어 전기적 특성 변화에 영향을 미치는 것으로 나타났다.</p> <p dmcf-pid="9JzuU0CnpT" dmcf-ptype="general">연구진은 주사탐침현미경의 오차율을 개선하기 위해 간극을 채우는 방법도 개발했다. 유전율이 높은 물질을 사용해 물리량의 변화를 최소화하는 방법이다. 유전율은 물질이 전기장에 미치는 영향을 의미한다.</p> <p dmcf-pid="245XHYc6pv" dmcf-ptype="general">간극은 리튬 니오베이트(PPLN)으로 채웠을 때 물리량 변화가 가장 낮은 것으로 나타났다. 주사탐침현미경의 정밀도는 8배 이상 높아졌다. 연구진은 강유전체 박막의 특성을 분석하는 연구에서 활용도가 높을 것으로 기대하고 있다.</p> <p dmcf-pid="V45XHYc6US" dmcf-ptype="general">홍 교수는 “미세 탐침을 활용한 나노스케일 측정 기술의 불확실성 문제를 해결할 수 있는 기반 연구”라며 “강유전체뿐만 아니라 다양한 기능성 재료의 전기적 특성 분석에 널리 적용될 수 있을 것”이라고 말했다.</p> <p dmcf-pid="fqTSlCnbUl" dmcf-ptype="general">연구 결과는 국제 학술지 ‘어드밴스드 펑셔널 머티리얼즈’에 지난 9월 2일 소개됐다.</p> <p dmcf-pid="4d7Up3Iiph" dmcf-ptype="general">참고 자료</p> <p dmcf-pid="8mRxQ6FOFC" dmcf-ptype="general">Advanced Functional Materials(2024), DOI: <span>https://doi.org/10.1002/adfm.202406944</span></p> <p dmcf-pid="6RU03tsdUI" dmcf-ptype="general">- Copyright ⓒ 조선비즈 & Chosun.com -</p> </section> </div> <p class="" data-translation="true">Copyright © 조선비즈. 무단전재 및 재배포 금지.</p> 관련자료 이전 팀네이버, 사우디 주택공사와 합작법인 설립한다…디지털 트윈·슈퍼앱 등 추진 11-18 다음 방통위 "불법스팸 대응 고도화 위해 예산 증액 필요" 11-18 댓글 0 등록된 댓글이 없습니다. 로그인한 회원만 댓글 등록이 가능합니다.
